Seminar “Scanning electron microscopy for measurement and material characterization in micro-electronic industry”

Ngày 13/8/2024, khoa Cơ Khí trường Đại học Bách Khoa – Đại học Quốc gia TP.HCM đã tổ chức buổi Seminar với chủ đề “Scanning electron microscopy for measurement and material characterization in micro-electronic industry”, tại hội trường B11, trường Đại học Bách Khoa (cơ sở Lý Thường Kiệt). Trình bày bởi: Giáo sư Nguyễn P. Hùng, đến từ Texas A&M University, Hoa Kỳ

Đến tham dự buổi hội thảo, có sự tham gia của các giảng viên thuộc khoa Cơ Khí, khoa Công nghệ vật liệu, các Nghiên cứu sinh, học viên cao học, sinh viên và đại diện của các doanh nghiệp làm việc trong lĩnh vực cơ khí.

Buổi seminar  tập trung vào việc trình bày các kỹ thuật sử dụng kính hiển vi điện tử quét (scanning electron microscopy – SEM) để đo lường và phân tích vật liệu trong ngành công nghiệp vi điện tử. Ngoài ra GS. Hùng cũng cung cấp một số thông tin về học bổng và chương trình học sau đại học tại Đại học Texas A&M.

Lý lịch khoa học tóm tắt của GS. Hùng: TS. Nguyễn Hùng là Giáo sư, Nghiên cứu viên và Điều phối viên Chương trình tại Khoa Công nghệ Kỹ thuật, Đại học Texas A&M, Hoa Kỳ. TS. Hùng đã được đào tạo về Kỹ thuật Cơ khí sau khi nhận bằng Cử nhân và Thạc sĩ từ Đại học Michigan, và Tiến sĩ từ Đại học California. Trước khi bắt đầu sự nghiệp học thuật, TS. Hùng đã có 13 năm làm việc trong ngành công nghiệp cả ở Hoa Kỳ và Singapore. Ông là thành viên tích cực của Hội Kỹ sư Chế tạo và Hiệp hội Giáo dục Kỹ thuật Hoa Kỳ (Society of Manufacturing Engineers and American Society for Engineering Education). TS. Hùng đã và đang hợp tác với các ngành công nghiệp và các tổ chức quốc tế tại Việt Nam, Singapore, Malaysia, Brunei, Mexico, Brazil, Pháp và Bỉ; và đã công bố hơn 200 bài báo kỹ thuật trong lĩnh vực sản xuất tiên tiến và vật liệu.